国产精品久久久久久岛国网址,亚洲精品日韩在线播放,漂亮妈妈1高清中字在线观看韩国,公与媳一区二区三区

Product Center

產(chǎn)品中心

當(dāng)前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >  實驗室檢測及分析儀器  >  膜厚儀

  • TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)

    TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學(xué)原理,對薄膜進(jìn)行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。

    更新日期:2023-07-20
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • SGC-10薄膜測厚儀

    SGC-10薄膜測厚儀適用于介質(zhì),半導(dǎo)體,薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀,是我公司與美國new-span公司合作研制的,采用new-span公司*的薄膜測厚技術(shù),基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)(折射率n,消光系數(shù)k)。

    更新日期:2018-12-14
    型號:
    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
共 2 條記錄,當(dāng)前 1 / 1 頁  首頁  上一頁  下一頁  末頁  跳轉(zhuǎn)到第頁 
歡迎您的咨詢
我們將竭盡全力為您用心服務(wù)
2885379450
關(guān)注公眾號
版權(quán)所有 © 2024 沈陽科晶自動化設(shè)備有限公司  備案號:遼ICP備07009795號-2

TEL:

關(guān)注公眾號